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B6-C高精度超聲波測厚儀適用范圍：

B6-C高精度超聲波測厚儀測量各類金屬及其合金制品的厚度，可穿透保護涂層對基材厚度進行測量，涂層的厚度值一并顯示。測量各類非金屬產品（塑料、陶瓷、橡膠、玻璃和其它）的厚度，以及任何超聲波良導體材料的厚度測量。

B6-C高精度超聲波測厚儀優勢特點：

1、2.4寸TFT彩色液晶顯示屏（分辨率：320×240）；

2、A掃描模式下，以圖形的方式顯示多次底波反射信號；
     3、帶有B掃描測量模式；
     4、可穿透保護涂層對金屬基材進行測厚（在E-E-E模式和P-E-Ct模式下）；

5、可測量保護涂層厚度（在P-E-Ct模式下）；
     6、具有探頭自動識別功能；

7、儀器內置29種不同材料的標準聲速值，方便隨時調用；

8、涂層聲速值單獨設定，確保不同的涂層材料，其厚度測量值準確（默認是油漆聲速）。

B6-C高精度超聲波測厚儀基本技術參數：

*測量厚度范圍取決于所檢測材料的聲學特性和探頭的類型。
   **可穿透涂層厚度范圍取決于涂層材料的聲學特性。

交付組件：

帶探頭的儀器主機（探頭數量和型號由客戶選擇）、充電器、mini-USB—USB A型數據線纜（用于連接計算機）、軟件光盤（用于傳輸數據至計算機并處理測量結果）、使用說明書（中英文各一份）、防震儀器箱。

可選配的B6-C測厚儀探頭

雙晶探頭5A10

檢測對象：測量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚。

技術特點：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.0至200.0mm；
• 可穿透油漆層對基材進行測厚（僅適用于平面工件，油漆層最大厚度≤0.5毫米）；
• 接觸面尺寸：Φ10mm；
• 探頭外形尺寸：Φ18×26mm；
• 工作溫度范圍： -10至+60℃；

注：采用新型復合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。

雙晶探頭10A6

檢測對象：測量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區域。

技術特點：

• 工作頻率：10MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.6至20mm；
• 接觸面尺寸：Φ6mm；
• 探頭外形尺寸：Φ14×26mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：采用新型復合材料制作，具有較高的耐磨性，并且與粗糙表面接觸良好。

雙晶探頭2.5A12

檢測對象：在制造、運行和維修過程中測量金屬和非金屬產品的殘余壁厚。

技術特點：

• 工作頻率：2.5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：3.0至200.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ15mm；
• 探頭外形尺寸：Φ22×45mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；

    注：在粗糙或銹蝕非常嚴重的工件表面具有良好的透聲性。

小尺寸雙晶探頭10A4

檢測對象：測量壁厚較薄的管材和金屬板材的厚度。

技術特點：

• 工作頻率：10MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.5至10mm；
• 接觸面尺寸：Φ4.5mm；
• 探頭外形尺寸：Φ9×11mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；

注：可用于狹小、難以進入的位置的厚度檢測（飛機的縱梁，小直徑的管道等）。

雙晶高溫探頭5T12

檢測對象：用于測量高溫零部件的厚度。

技術特點：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.0至100.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ14mm；
• 探頭外形尺寸：Φ26×48mm；
• 工作溫度范圍：-10至+250℃。

可穿透涂層的測厚探頭

雙晶探頭5E10

檢測對象：測量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。

技術特點：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.5至300.0mm（在P-E和P-E-Ct模式下）；
• 1.0至20.0mm（在E-E-E模式下）；
• 最大可穿透涂層厚度為2.0mm（在E-E-E模式下）；
• 最大可穿透涂層厚度為1.0mm（在P-E-Ct模式下）；
• 接觸面尺寸：Φ12mm；
• 探頭外形尺寸：Φ25×47mm；
• 工作溫度范圍：-1至+60℃。

雙晶探頭10E6

檢測對象：測量管道的厚度，半徑較小的容器的彎曲區域，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度，也可同時顯示出基材和涂層的厚度值（在P-E-Ct模式下）。

技術特點：

• 工作頻率：10MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.6至50.0mm（在P-E模式下）；
• 0.6至10.0mm（在E-E模式下，最大可穿透涂層厚度為1.0mm）；
• 0.6至25.0mm（在P-E-Ct模式下，最大可穿透涂層厚度為0.5mm）；
• 接觸面尺寸：Φ8mm；
• 探頭外形尺寸：Φ25×47mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃。

帶延遲塊的探頭15P6DL

檢測對象：推薦用于非常薄的材料的厚度測量。

技術特點：

• 工作頻率：15MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：0.25至10.0m；
• 穿透涂層時的測厚范圍：0.25至10.0mm（最大可穿透涂層厚度為2mm）；
• 接觸面尺寸：Φ7.4mm，
• 探頭外形尺寸：Φ14×25.5mm；

注：可用于狹小、難以進入的位置的厚度檢測（飛機的縱梁，小直徑的管道等）。

帶保護膜的單晶探頭P111-S5C（用于E-E-E模式）

檢測對象：在E-E-E模式下，用來測量金屬和非金屬產品的殘余壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度。

技術特點：

• 工作頻率：5MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：1.0至200.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ16mm；
• 探頭外形尺寸：Φ26×46mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；
• 保護膜：聚氨酯膜；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對基材進行測厚。

帶保護膜的單晶探頭P111-S2C（用于E-E-E模式）

檢測對象：在E-E-E模式下，用來測量金屬和非金屬產品的殘余壁厚，可直接測得基材的厚度值并忽略涂層厚度。

技術特點：

• 工作頻率：2.25MHz；
• 測厚范圍（對于鋼）：2.0至150.0mm；
• 接觸面尺寸：Φ16mm；
• 探頭外形尺寸：Φ26×46mm；
• 工作溫度范圍：-10至+60℃；
• 保護膜：聚氨酯膜；

注：在粗糙或銹蝕非常嚴重的工件表面具有良好的透聲性,可穿透涂層對基材進行測厚。