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美國GE 帶可更換保護(hù)膜的接觸法探頭 B0.5SL探傷儀探頭
B0.5SL探傷儀探頭主要特性:
美國GE/KK 公司 B1SL探傷儀單晶直探頭主要應(yīng)用領(lǐng)域
通常:用于容積形或者平等于表面的缺陷的探測和評估。可互換的抗磨損的保護(hù)膜可以使得探頭在粗糙或者彎曲的表面也達(dá)到盡可能好的耦合,并防止探頭受損。
B..SL:
探頭型號有:B0.5SL B1SL B2SL (單/直)
用于測試這樣一類中等尺寸和大尺寸物體,它們由于具有長的聲程(例如大的鍛件或球墨鑄鐵)而會導(dǎo)致大的聲波衰減。它們也適合用于測試具有強的聲波吸收特性的塑料(例如尼龍、特氟龍、聚丙烯),為增加靈敏度和分辨率,可以將保護(hù)膜去掉。
探頭型號有:B0.5SL B1SL B2SL (單/直) 參數(shù):
美國GE、德國KK公司 單晶直探頭型號如下:
B1S、B2S、B4S、B5S、MB2S、MB4S、MB5S
探頭詳細(xì)信息請致電:0755-22325800,22325920咨詢了解!