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L200薄膜測厚儀

產品名稱：L200薄膜測厚儀
產品型號：L200
產品品牌：美國LEE測厚儀

L200薄膜測厚儀采用了磁感應和電渦流技術測厚法，是一種超小型測量儀。本儀器可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量；該儀器堅固耐用、用途廣泛，可單手操作。
L200薄膜測厚儀
簡單介紹 ：
L200薄膜測厚儀采用了磁感應和電渦流技術測厚法，是一種超小型測量儀。
可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、鋅、錫、琺瑯、橡膠、塑料、油漆等)，也可測量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。
本儀器可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量；該儀器堅固耐用、用途廣泛，可單手操作。

L200薄膜測厚儀詳細介紹：
    美國LEE INSTRUMENTS公司是專業生產涂層測厚儀的公司，產品精度高，穩定可靠，堅固耐用！一直為美國軍方和航空航天行業獨自使用，近年來美國才允許出口到國外！
    L200涂鍍層測厚儀設計便攜耐用，使其能在苛刻條件下正常使用，具有一鍵操作功能，無須校準，也不用重設即可進行下一次測量，無需對操作人員進行培訓即可操作。
L200薄膜測厚儀功能：
    可進行零點校準及全量程校準。紅寶石防磨探頭。可對探頭進行基本校準。具有自動關機功能。操作過程有蜂鳴聲提示。有欠壓指示功能。有錯誤提示功能。

L200薄膜測厚儀指標：
*測量原理：磁感應法和渦流法（Fe/NFe兩用探頭）
*測量范圍：1～1250μm
*測量準確度：±[(1～3)%H+1] μm（全量程校準）
*分辨率：1μm
*工件要求：最小曲率半徑（mm）凸5  /  凹 25 ；
                   接觸最小面積直徑10mm×10mm；
                   基體最小厚度Fe:0.2 mm；NFe:0.05mm
*使用環境：溫度0-60攝氏度；濕度 20%-75% ；無磁場環境
*電源：四節1.5伏AAA電池
*外形尺寸：112 ×69×28mm
*重量：82 g(不含電池)

L200薄膜測厚儀標準配置：
主機、標準校準片、校準鐵基體和鋁基體、使用指南、英文檢驗報告證書、手提箱、掛繩及電池

L200薄膜測厚儀

深圳市世創利科技有限公司
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