型號規格

JQ-B240

測試系統

測試模組/成像模組?/?暗室模組

檢測時間 （S）

1~5S

檢測對象

晶體硅組件；單晶/多晶

檢測方式

白天暗室檢測/夜晚支架上組件直接檢測

可判斷缺陷類型

隱裂/斷柵/黑心/黑邊/低效率片/燒結網紋/碎片/邊緣過刻/材料缺陷

成像系統

分辨率：2400W，

自動對焦

內置無線傳輸模組/外接遠程無線wifi

暗室系統

暗室帳篷

面積(mm)：2200*2200*1300（可定制）

上電電源（可選）

直流穩壓電源?60V10A（標配）

便攜式發電機（可選）

多組件供電電源（可選）

上電模式

手動連接組件上電

序號

系統名稱

規格

數量

單位

1

成像系統

紅外相機

1

套

2

平板電腦

1

套

3

無線wifi

1

套

4

暗室系統

暗室帳篷

1

套

5

組件放置架

1

套

6

暗室支架

1

件

7

相機支架

1

件

8

電源

直流穩壓電源

1

臺

9

外接線

外接延長線

1

根

10

其他

拉桿箱???

1

件

11

其他

手提包??

1

件