KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 濺射制備微晶硅薄膜
KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 濺射制備微晶硅薄膜
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    商品詳情

      硅薄膜作為薄膜太陽能電池的核心材料越來越引起人們的重視, 非晶硅薄膜太陽能電池由于存在轉換效率低和由 S-W 效應引起的效率衰退等問題, 而微晶硅薄膜具有較高電導率、較高載流子遷移的電學性質及優良的光學穩定性, 可以克服非晶硅薄膜的不足, 已成為光伏領域的研究熱點.

       

      采用磁控濺射沉積硅薄膜不需要使用 SiH4 等有毒氣體及相應的尾氣處理裝置, 有利于降低設備成本, 且工藝參數容易控制, 因此經過伯東工程師推薦, 長沙某大學實驗室課題租在研究微晶硅薄膜時, 采用伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 輔助磁控濺沉積制備微晶硅薄膜.

       

      KRI 射頻離子源 RFICP380 技術參數:

      射頻離子源型號

      RFICP380

      Discharge 陽極

      射頻 RFICP

      離子束流

      >1500 mA

      離子動能

      100-1200 V

      柵極直徑

      30 cm Φ

      離子束

      聚焦, 平行, 散射

      流量

      15-50 sccm

      通氣

      Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

      典型壓力

      < 0.5m Torr

      長度

      39 cm

      直徑

      59 cm

      中和器

      LFN 2000

       

       

      試驗結果:

      在實驗中, 通過伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 輔助磁控濺沉積的方法, 可以在玻璃襯底上制備出結晶良好的微晶硅薄膜.

       

      KRI 離子源的獨特功能實現了更好的性能, 增強的可靠性和新穎的材料工藝. KRI 離子源已經獲得了理想的薄膜和表面特性, 而這些特性在不使用 KRI 離子源技術的情況下是無法實現的.

       

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