商鋪名稱：深圳市泰立儀器儀表有限公司
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美國泛美超聲波測厚 MG2-XT的簡介：
Panametrics® MG2-XT型測厚儀具有與 Panametrics MG2型測厚儀相同的功能。 該測厚儀由于增加了B掃描、增益調整、 自動靈敏度優化、回波到回波、Olympus® THRU-COAT®（穿透鍍層）、差值模式、 高/低報警、可選動態A掃描等測量功能， 可在條件惡劣的應用中發揮更高的效能。 這款測厚儀是測量表面涂有鍍層或漆層的 材料厚度的最理想的儀器
實用測量功能（僅存在于MG2-XT型和MG2-DL型儀器中）
THRU-COAT（穿透鍍層）
這是一項專利技術：利用單個底面回波，儀器可同時顯示鍍層厚度和金屬的實際厚度。每次測量需根據校準過的材料聲速進行調整。Olympus®的THRU-COAT®（穿透鍍層）測量需使用D7906-SM和D7908探頭。
可調節波形的實時A掃描
這是一個可選實時A掃描模式：用戶可在 測厚儀屏幕上直接觀察超聲信號波形（A 掃描）；核查厚度讀數；還可手動調整 增益和抑制設置，以便在挑戰性應用中 最大限度地發揮儀器的測量性能。此利 于操作的選項具有以下功能：手動增益 調整、鄰區抑制、回波抑制及延遲。
增益調整
此功能對于測量如鑄鐵等聲波衰減較大的材料非常有效。
? 將增益調整預置為高、低或標準
? 手動增益調整的增量可被設置為1 dB（僅適用于實時A掃描模式）
鄰區抑制
可抑制因材料表面粗糙或不規則而引起 的噪聲回波（僅適用于實時A掃描模式）。
回波到回波
測厚儀利用多重底面回波，顯示不計鍍 層厚度的金屬的實際厚度：
? 自動回波到回波
? 手動回波到回波（僅適用于實時A掃 描模式）可進行以下操作：
-- 增益調整
-- 鄰區抑制
-- 回波抑制
B掃描腐蝕成像
Panametrics MG2-XT型與Panametrics MG2-DL型儀器具有將實時測量的厚度讀數轉換成橫截面圖像的B掃描功能。該標準功能在需要察看工件厚度如何根據距離的不同而發生變化的應 用中非常有用。在激活B掃描功能后，當探頭接觸到被測材料時，屏幕上便會出現橫截面厚度圖像。最小凍結（Freeze Min）功能用于顯示掃查區域內的最小厚度。Panametrics MG2-DL型儀器的數據記錄器可存儲多達1300幅B掃描圖像。
高溫表面
配用D790系列探頭 （D790、D790--SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型與 Panametrics® MG2-DL型測厚儀，是穩定 測量表面溫度高達500oC的材料厚度的理 想儀器。MG2系列儀器的零位補償功能 通過補償因熱漂移引起的探頭延遲線在溫度上的變化，增加了在高溫表面進行材料厚度測量的精確性。
可快速生成可靠文件的數據采集
內置數據記錄器
強大的Panametrics® MG2-DL內置數據記錄器可存儲、回放、傳輸31000個厚度讀數及其識別碼。配有可選實時波形模式功能的測厚儀還可存儲1300個帶有厚度讀數的波形。儀器中所有的存儲信息都可被方便地傳輸到計算機中進行統計分析。
字母數字識別碼
用戶可以為每一個所存的厚度測量指定 一個含8個字符的文件名和最多可有10 個字母數字的識別碼。每個厚度測量的信息被全部歸檔，其中包括材料聲速、探頭數據和測量模式等參數信息。
機載統計計算器
Panametrics MG2-DL型儀器的內置數據記錄器配有機載統計計算器，可生成直接傳輸到打印機的報告。
柵格顯示（GRIDVIEW）
柵格顯示功能（只存在于Panametrics MG2-DL型儀器中）可以柵格格式或擴展的線性格式顯示所存的厚度數據。該功能便于用戶察看和瀏覽位于某行某列柵格單元中所存的厚度數據：在顯示當前厚度測量值的同時，顯示其在柵格中的位置。
GAGEVIEW PRO接口程序
可選GageView?Pro接口程序的應用基于Microsoft® Windows®系統。該程序可收集、創建、打印、管理來自Panametrics MG2-DL型儀器的數據。
? 創建數據集與采樣。
? 從測厚儀上下載厚度測量采樣，以及將采樣上傳至測厚儀。
? 編輯存儲數據。
? 查看包含厚度讀數、測厚儀配置數值及探頭配置數值的數據集與采樣文件信息。
? 將采樣數據傳輸到電子數據表格及其它程序。
? 收集屏幕捕獲圖象。
? 打印厚度、設置表格、統計、顏色柵格的報告。
? 更新操作軟件。
? 托放到Microsoft Excel® 電子數據表格中。
具有自動識別功能的探頭
每個MG2系列儀器都與我們公司生產的可互換式雙晶探頭系列的所有產品兼容。這些探頭的頻率、直徑及適應溫度的能力各不相同，可滿足幾乎所有應用的要求。
探頭工件編號
頻率
（MHz）
端部
直徑
（mm）
線纜
連接器
方向
范圍（在鋼中*）
（mm）
溫度
范圍**（°c）
連接桿
探頭架
（帶連接桿）
D790
5
11
密封
平直
1.00～508.00
–20～500
F152
F152A
D790-SM
LCMD-316-5B?
平直
F152
F152A
D790-RL
LCLD-316-5G?
90o
—-
—
D790-SL
LCLD-316-5H
平直
F152
F152A
D791
5
11
密封
90o
1.00～508.00
–20～500
F153
—
D791-RM
5
11
LCMD-316-5C
90o
1.00～508.00
–20～400
—
—
D792
10
7.2
密封
平直
0.50～25.00
0～50
F150
F150A
D793
90o
F151
—
D794
5
7.2
密封
平直
0.75～50.00
0～50
F150
F150A
D795
90o
F151
—
D797
2
22.9
密封
90o
3.80～635.00
–20～400
—
—
D797-SM
LCMD-316-5D
平直
D7226
7.5
8.9
密封
90o
0.71～100.00
–20～150
—
—
D798-LF
D798
7.5
7.2
密封
90o
0.71～100.00
–20～150
—
—
D798-SM
LCMD-316-5J
平直
D799
5
11
密封
90o
1.00～500.00
–20～150
—
—
D7906-SM??
5
11
LCMD-316-5L
平直
1.00～50.00
0～50
—
—
D7908??
7.5
7.2
密封
90o
1.00～37.00
0～50
—
—
MTD705
5
5.1
LCLPD-78-5
90o
1.00～19.00
0～50
—
—
* 取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。
** 最高溫度下，僅使用間歇接觸。
? 可提供不銹鋼線纜。欲查詢工件編號，請與Olympus聯系。
?? 用于Olympus® THRU-COAT ® （穿透鍍層）技術的探頭。
D790探頭
實用測量功能（僅存在于MG2-XT型和MG2-DL型儀器中）
THRU-COAT（穿透鍍層）
這是一項專利技術：利用單個底面回波，儀器可同時顯示鍍層厚度和金屬的實際厚度。每次測量需根據校準過的材料聲速進行調整。Olympus®的THRU-COAT®（穿透鍍層）測量需使用D7906-SM和D7908探頭。
可調節波形的實時A掃描
這是一個可選實時A掃描模式：用戶可在 測厚儀屏幕上直接觀察超聲信號波形（A 掃描）；核查厚度讀數；還可手動調整 增益和抑制設置，以便在挑戰性應用中 最大限度地發揮儀器的測量性能。此利 于操作的選項具有以下功能：手動增益 調整、鄰區抑制、回波抑制及延遲。
增益調整
此功能對于測量如鑄鐵等聲波衰減較大的材料非常有效。
? 將增益調整預置為高、低或標準
? 手動增益調整的增量可被設置為1 dB（僅適用于實時A掃描模式）
鄰區抑制
可抑制因材料表面粗糙或不規則而引起 的噪聲回波（僅適用于實時A掃描模式）。
回波到回波
測厚儀利用多重底面回波，顯示不計鍍 層厚度的金屬的實際厚度：
? 自動回波到回波
? 手動回波到回波（僅適用于實時A掃 描模式）可進行以下操作：
-- 增益調整
-- 鄰區抑制
-- 回波抑制
B掃描腐蝕成像
Panametrics MG2-XT型與Panametrics MG2-DL型儀器具有將實時測量的厚度讀數轉換成橫截面圖像的B掃描功能。該標準功能在需要察看工件厚度如何根據距離的不同而發生變化的應 用中非常有用。在激活B掃描功能后，當探頭接觸到被測材料時，屏幕上便會出現橫截面厚度圖像。最小凍結（Freeze Min）功能用于顯示掃查區域內的最小厚度。Panametrics MG2-DL型儀器的數據記錄器可存儲多達1300幅B掃描圖像。
高溫表面
配用D790系列探頭 （D790、D790--SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型與 Panametrics® MG2-DL型測厚儀，是穩定 測量表面溫度高達500oC的材料厚度的理 想儀器。MG2系列儀器的零位補償功能 通過補償因熱漂移引起的探頭延遲線在溫度上的變化，增加了在高溫表面進行材料厚度測量的精確性。
可快速生成可靠文件的數據采集
內置數據記錄器
強大的Panametrics® MG2-DL內置數據記錄器可存儲、回放、傳輸31000個厚度讀數及其識別碼。配有可選實時波形模式功能的測厚儀還可存儲1300個帶有厚度讀數的波形。儀器中所有的存儲信息都可被方便地傳輸到計算機中進行統計分析。
字母數字識別碼
用戶可以為每一個所存的厚度測量指定 一個含8個字符的文件名和最多可有10 個字母數字的識別碼。每個厚度測量的信息被全部歸檔，其中包括材料聲速、探頭數據和測量模式等參數信息。
機載統計計算器
Panametrics MG2-DL型儀器的內置數據記錄器配有機載統計計算器，可生成直接傳輸到打印機的報告。
柵格顯示（GRIDVIEW）
柵格顯示功能（只存在于Panametrics MG2-DL型儀器中）可以柵格格式或擴展的線性格式顯示所存的厚度數據。該功能便于用戶察看和瀏覽位于某行某列柵格單元中所存的厚度數據：在顯示當前厚度測量值的同時，顯示其在柵格中的位置。
GAGEVIEW PRO接口程序
可選GageView?Pro接口程序的應用基于Microsoft® Windows®系統。該程序可收集、創建、打印、管理來自Panametrics MG2-DL型儀器的數據。
? 創建數據集與采樣。
? 從測厚儀上下載厚度測量采樣，以及將采樣上傳至測厚儀。
? 編輯存儲數據。
? 查看包含厚度讀數、測厚儀配置數值及探頭配置數值的數據集與采樣文件信息。
? 將采樣數據傳輸到電子數據表格及其它程序。
? 收集屏幕捕獲圖象。
? 打印厚度、設置表格、統計、顏色柵格的報告。
? 更新操作軟件。
? 托放到Microsoft Excel® 電子數據表格中。
具有自動識別功能的探頭
每個MG2系列儀器都與我們公司生產的可互換式雙晶探頭系列的所有產品兼容。這些探頭的頻率、直徑及適應溫度的能力各不相同，可滿足幾乎所有應用的要求。
|
探頭工件編號 |
頻率 （MHz） |
端部 直徑 （mm） |
線纜 |
連接器 方向 |
范圍（在鋼中*） （mm） |
溫度 范圍**（°c） |
連接桿 |
探頭架 （帶連接桿） |
|
D790 |
5 |
11 |
密封 |
平直 |
1.00～508.00 |
–20～500 |
F152 |
F152A |
|
D790-SM |
LCMD-316-5B? |
平直 |
F152 |
F152A |
||||
|
D790-RL |
LCLD-316-5G? |
90o |
—- |
— |
||||
|
D790-SL |
LCLD-316-5H |
平直 |
F152 |
F152A |
||||
|
D791 |
5 |
11 |
密封 |
90o |
1.00～508.00 |
–20～500 |
F153 |
— |
|
D791-RM |
5 |
11 |
LCMD-316-5C |
90o |
1.00～508.00 |
–20～400 |
— |
— |
|
D792 |
10 |
7.2 |
密封 |
平直 |
0.50～25.00 |
0～50 |
F150 |
F150A |
|
D793 |
90o |
F151 |
— |
|||||
|
D794 |
5 |
7.2 |
密封 |
平直 |
0.75～50.00 |
0～50 |
F150 |
F150A |
|
D795 |
90o |
F151 |
— |
|||||
|
D797 |
2 |
22.9 |
密封 |
90o |
3.80～635.00 |
–20～400 |
— |
— |
|
D797-SM |
LCMD-316-5D |
平直 |
||||||
|
D7226 |
7.5 |
8.9 |
密封 |
90o |
0.71～100.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D798-LF |
||||||||
|
D798 |
7.5 |
7.2 |
密封 |
90o |
0.71～100.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D798-SM |
LCMD-316-5J |
平直 |
||||||
|
D799 |
5 |
11 |
密封 |
90o |
1.00～500.00 |
–20～150 |
— |
— |
|
D7906-SM?? |
5 |
11 |
LCMD-316-5L |
平直 |
1.00～50.00 |
0～50 |
— |
— |
|
D7908?? |
7.5 |
7.2 |
密封 |
90o |
1.00～37.00 |
0～50 |
— |
— |
|
MTD705 |
5 |
5.1 |
LCLPD-78-5 |
90o |
1.00～19.00 |
0～50 |
— |
— |
* 取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。
** 最高溫度下，僅使用間歇接觸。
? 可提供不銹鋼線纜。欲查詢工件編號，請與Olympus聯系。
?? 用于Olympus® THRU-COAT ® （穿透鍍層）技術的探頭。
