1768-CNBR   plc  

.功能與參數測試 
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區,放大區和飽和區.但不 
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數值等. 
2.同理對TTL數字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 
法查出它的上升與下降沿的速度. 
四.晶體振蕩器 
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 
否則只能采用代換法了. 
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電 
容漏電.這里漏電現象,用<測試儀>的VI曲線應能測出. 
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關 
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點. 
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 
意短路. 
五.故障現象的分布 
1.電路板故障部位的不完全統計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%, 
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢). 
2.由上可知,當待修電路板出現聯線和程序有問題時,又沒有好板子,既 
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.  

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1766-MM1

1768-CNB

1768-CNBR

1768-EWEB

1768-L43S

1769-AENTR

1769-AENTRK

1769-ARM

1769-ASCII

1769-BA

1769-BOOLEAN

1769-CJC

1769-CLL1

1769-CLL3

1769-CRL1

1769-CRL3

1769-CRR1

1769-CRR3

1769-ECL

1769-ECLK

1769-ECR

1769-ECRK

1769-HSC

1769-IA16

1769-IA16K

1769-IA8I

1769-IA8IK

1769-IF16C

1769-IF16CK

1769-IF16V

1769-IF16VK

1769-IF4

1769-IF4FXOF2F

1769-IF4I

1769-IF4IK

1769-IF4K

1769-IF4XOF2

1769-IF4XOF2K

1769-IF8

1769-IF8K

1769-IG16

1769-IM12

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1769-IQ16F

1769-IQ16K

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1769-IQ32K

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1769-IQ6XOW4

1769-IR6

1769-IR6K

1769-IT6

1769-IT6K

1769-L16ER-BB1B

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1769-L19ER-BB1BK

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1769-L24ER-QBFC1B

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1769-L27ERM-QBFC1B

1769-L30ER

1769-L30ER-NSE

1769-L30ERK

1769-L30ERM

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